動態光散射原理的納米粒度儀的研制

    納米顆粒的尺度一般在1-100nm之間, 是介于原子、分子和固體體相之間的物質狀態。由于納米顆粒具有尺寸小、比表面積大和量子尺寸效應, 使它具有不同于常規固體的新特性。在納米態下, 顆粒尺寸更是對其性質有著強烈的影響, 納米材料的粒度大小是衡量納米材料zui重要的參數之一。而常規的基于靜態光散射原理的激光粒度儀的測量下限己接近極限, 但仍舊不能對納米顆粒的粒度測試得出理想的結果甚至無能為力。光子相關光譜(Photon Correlation Spectroscopy,簡稱PCS)法已被證明是一種適于測量納米及亞微米顆粒粒度的有效方法。PCS技術也成為動態光散射(Dynamic Light Scattering, 簡稱DLS) 技術, 主要是研究散射光在某一固定空間位置的漲落現象。其顆粒粒度測量原理建立在顆粒的布朗運動基礎之上。由于顆粒的布朗運動, 一定角度下的散射光強將相對于某一平均值隨機漲落。

基于動態光散射原理的顆粒粒度測試基本原理如圖1.1所示。













zui后再對四路基線求其平均值用于數據分析, 以免突變的光強引起光強自相關函數發生畸變。