粒度粒形分析儀是根據(jù)顆粒能使激光產生散射這一物理現(xiàn)象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和較強的方向性，所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。  

實驗原理：  

粒度粒形分析儀是利用粒子的布朗運動，根據(jù)光的散射原理測量粉顆粒大小的，是一種比較通用的粒度儀。其特點是測量的動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便，尤其適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。對粒度均勻的粉體，比如磨料微粉，要慎重選用。  

集成了激光技術、現(xiàn)代光電技術、電子技術、精密機械和計算機技術，具有測量速度快、動態(tài)范圍大、操作簡便、重復性好等優(yōu)點，現(xiàn)已成為流行的粒度測試儀器。  

作為一種新型的粒度測試儀器，已經(jīng)在其它粉體加工與應用領域得到廣泛的應用。它的特點是測試速度快、重復性好、準確性好、操作簡便。對提高產品質量、降低能源消耗有著重要的意義。  

粒度粒形分析儀功能及特點：  

可對高速運動狀態(tài)下的顆粒進行清晰的粒形和粒度分析，從不同的方向測試顆粒的形狀，保證被測試樣品的代表性。  

高效、簡潔的模塊化設計，讓不同的分散系統(tǒng)和圖形分析系統(tǒng)自由組合，完成不同應用領域的測試要求，比如對粉狀物料、懸浮液、纖維狀物料、透明晶體的粒形粒度分析。  

可達到亞微米級的高清晰度、高精度的粒形和粒度大小同步測試。  

高達400萬像素的CMOS成像系統(tǒng)，可以保證清晰的得到每一個顆粒的粒形信息。  

每秒高達500幅圖片的成像速度，可以快速的獲得大量的顆粒粒度信息，并進行統(tǒng)計分析。  

可以用于顆粒的計數(shù)應用。